KXR-4100系列双转角晶片测角机
用于双转角石英晶片的角度测量。
主要特点
1. 采用低功率X射线源实现双转角晶片角度的精确测量。
2. 可根据用户指定的转角范围进行产品定制。
3. 可根据用户指定的晶片规格提供自动分类方案。
统计功能
—动态中心值指示
—动态标准偏差值指示
—测量数据列表显示
—模拟分选统计
测量模式
放置一个晶片，自动整理，自动扫描测量。
技术参数
|
KXR-4100 |
Φ：18°30′0″- 26°00′0″ |
|
θ：33°15′0″- 34°30′0″ |
|
|
KXR-4102 |
Φ：0°0′0″- 8°30′0″ |
|
θ：34°15′0″- 35°45′0″ |
|
|
外形尺寸(长宽高） |
725*715*1450mm |
|
重量 |
198kg |
|
屏幕 |
8英寸触控屏 |
|
输入电源 |
220V±10%，50-60Hz，0.65A |
|
输入气源 |
0.5MPa,20L/min洁净气源 |
|
衍射方式 |
二级衍射 |
|
光路调整方式 |
可控光轨调整装置 |
|
操作方式 |
人工置片，自动整理±X方向辨识测量和分类 |
|
静态重复性测试标准偏差 |
约3″（10次，不同角度晶片会有差异） |
|
可测量晶片规格 |
X向：12-40mm,Z向：12-40mm |
|
数据呈现 |
实时提供每片数据；数据以统计表 形式显示在触控屏上 |
|
数据输出 |
提供以太网传输接口、SD卡 |
